耐压测试是一种非常通用的测试，可用于多种应用，从研发和型式测试，到生产线末端甚至维修后验证电气安全。

在这篇文章中，我们来看看两种最常见的耐压测试之间的差异，即介电耐压测试和介电击穿测试。

原则上，这两种测试在被测器件（DUT）上的应用几乎相同，但测试结果往往不同。

耐压测试通常包括两个测试端子、一个输出电压源和一个回流端子，泄漏电流流入回流端子并由测试设备测量。

介电耐压试验

介电耐压试验是耐压试验中最常见的一种。它涉及施加规定的电压，对于由电源电压供电的设备，通常在V或更高的范围内。

测试（输出）电压施加一段规定的时间（保持时间），从型式测试的几分钟到生产（常规）测试的低至一秒不等。

通常，测试的成功结果将由在返回端子中检测到的电流量来确定。如果电流过多（跳闸电流），则测试将作为故障中止。

电流的大小通常以毫安为单位测量，并将设置一个电流阈值来确定测试是否通过。同样，根据应用的不同，该值可能会有所不同。型式试验场景的值在mA范围内是相当常见的，在这种情况下，试验是在更可控的实验室型环境中进行的。当在生产线上进行测试时，为了确保测试操作员的安全，这些限制通常要低得多，在5mA范围内是可以接受的。

这种类型的测试通常没有破坏性，除非设备中已经存在故障，因此它在生产环境中是如此常见的测试。然而，作为型式试验的一部分进行的较长试验可能会削弱绝缘材料的完整性。因此，作为型式试验一部分进行试验的产品通常不适合销售。

电介质击穿试验

电介质击穿测试以与上述相同的方式进行，但是在该特定测试中没有规定最大电压，并且通常没有保持时间。

相反，电压逐渐增加，直到被测产品的绝缘体不能再承受电压并发生击穿为止。该电压是绝缘体变得导电的点。

在这种情况下，关键参数是击穿点的记录电压。

如上所述，这种测试的本质可以被视为破坏性的，其目的是迫使DUT达到击穿点。因此，这种类型的测试仅在研发环境中进行，不适合用于常规测试，因为这会使设备处于不安全状态。