介电常数是用于衡量绝缘体储存电能的性能，它是两块金属板间以绝缘材料为介质时电容量与同样两块板间以空气为介质或真空时电容量之比，代表了电介质的极化程度。

ZJD-A介电常数测试仪-中航时代仪器

从应用角度分析，电子领域使用的热界面材料希望介电常数越低越好。本节实验测试不同频率下40μm球形和片形氧化铝不同填充量的介电常数，如图2-42所示。从图中可以看出介电常数随着测试频率的增大而降低，并且随着填充量的增加而提高。固定1MHz频率下讨论不同含量填料的影响，当填充phr球形氧化铝时，复合物的介电常数为4.，相比片形的介电常数较高。继续增加到phr时，测试值升高到5.。这是因为氧化铝填料本身介电常数比硅橡胶基体的大，所以随着填充量的增加，复合材料的介电常数逐步提高。

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另外，实验通过测试二元混杂粒径氧化铝按照质量比5μm/40μm=3:7填充体系（见图2-43），同样发现随着填充量的增加，介电常数不断提高，损耗因子逐渐下降。本实验对比固定1MHz频率下测试的复合材料介质损耗，发现填充phr后损耗因子从未填充的0.降低到0.07，介电常数从未填充的3.升至6.。

在原来二元粒径微米级Al2O3填充复配最好的体系中，用nmAl2O3和三种BN分别替换20vol.%微米级Al2O3，分别测试制得复合材料的介电性能，结果如图2-44所示。发现用BN替换后介电常数和损耗因子都略微降低，但是用纳米Al2O3替换后却发现损耗因子由原来的0.提高到0.，介电常数由原来的0.提高到6.，但仍小于7，在绝缘材料范围内。

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